• 实现基于拉曼的尖锐的微粒表征

质谱和光谱法

实现基于拉曼的尖锐的微粒表征

20021年2月4日

witec gmbh,拉曼显微镜技术的速度设定领导者已增强其颗粒自动粒子分析工具,以提供更高的速度和多功能性,用于查找,分类和识别微粒。

现在,颗粒库包括集成时间优化,该优化使用信号与噪声比确定每个粒子的识别时间。这不仅大大减少了总体测量时间,而且还可以最大程度地减少荧光的影响。

WITEC市场总监Harald Fischer说:“ PracelesCout的第一个版本是对围绕拉曼光谱构建的微颗粒分析系统的一般需求的回应。”“此版本是由研究人员的直接反馈及其在实验室中的直接反馈驱动的,这些实验室的特定要求着重于环境研究,食品科学,药物和许多其他应用。”

增强的颗粒库已添加了图像处理功能,例如渐晕校正,智能变焦,该功能根据查看区域动态显示粒子信息以及多个样本区域的目标。这些便利是通过深色场,明亮场,落叶和传播样品照明的整合和可能组合的补充。

已经引入了软件例程,以加速圆形样品的测量,例如包含均匀分布粒子的过滤器。它允许选择一个楔形部分进行分析,然后可以推断结果以表示整体。另一个创新是紧密相邻或接触粒子的智能分离。这对于密集包装的异质样品特别有用。

使用WITEC的TRUEMATCH™RAMAN数据库管理软件进行了数据后处理,包括在混合光谱中识别单个组件的能力。HIT质量指数(HQI)计算还通过自动降低降噪和底物光谱进行了优化。这些进步共同使样品表征具有新的精度。

最后,现在可以使用预配置的模板(例如表,条形图直方图或饼图)来格式化颗粒库研究结果的定量报告,以进行清晰有效的数据表示。

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