Duetta™-荧光的未来

的HORIBADuetta二合一光谱仪正在革新荧光光谱学。它可以用作荧光计、紫外-可见-近红外光谱仪来测量吸光度，或通过同时采集荧光和吸光度来测量真实分子指纹的系统。

荧光光谱由多通道CCD探测器在单次拍摄中获得，无需耗时的逐波长扫描。因此，全范围光谱可以在短短50毫秒内生成，比典型的荧光系统快100倍以上。当收集激发发射矩阵(EEMs)时，这个速度是一个明显的优势，即在一个激发波长范围内的多个发射光谱。CCD探测器的额外优势是波长范围比通常的台式仪器更宽，可达1100纳米。

通过这个单一系统，可以进行多种测量，包括荧光发射、荧光激发、荧光动力学(强度与时间的关系)、荧光EEM、吸光度和%透光率。EZspec软件中的应用程序集合也将这些转化为有形的结果，例如，建立浓度曲线，提供一个简单的、可定制的通过/失败程序，或使用A280方法确定蛋白质浓度。

这种二合一系统不仅在一个系统内提供了所有这些分析能力，而且它的双重性通过自动校正内部过滤效应(IFE)确保了可靠和正确的数据。如果没有这一点，荧光数据很容易出错!

内滤效应(IFEs)可以显著地影响荧光发射光谱分布，使其总体形状发生扭曲，最大峰的光谱位置发生偏移，发射强度降低。因此，当用标准荧光分光计记录时，检测到的荧光与样品的真实荧光发射并不一致，即使荧光团浓度很小。这些荧光光谱畸变在显示、照明和生物成像应用中是至关重要的，在这些应用中需要可靠性和发射特性的精确知识。

所有的荧光光谱仪都能观测到这种扰动。然而，Duetta具有双重荧光和吸光度，能够测量真正的分子指纹，实时校正IFE，所有这些都在眨眼之间!

要了解更多关于Duetta的信息，请下载宣传册．如果你想看杜埃塔的表演，联系HORIBA英国在线演示。