新SEM提供了其本土样本的超高分辨率成像

JEOL USA推出了一种新的扫描电子显微镜（SEM），该电子显微镜（SEM）结合了场发射SEM的性能与Jeol Intouchscope SEM系列的简单性。新的JSM-IT300小时以任何具有高亮度，长寿的KV为特色的图像保真度。在本系列中，IT300小时提供的分辨率和放大率比以往任何时候都更大，可以极大地增强表面形态和对比度。

坚固的室内标本阶段和大型腔室可容纳各种不同形状，尺寸和重量的样品，使用户能够在撤离室之前清晰的位置在舞台上固定大，重和奇怪的物体。

标本室的十二个几何优化的分析端口允许多个检测器，从而在SEM内形成虚拟纳米LAB。低真空能力是标准特征，可以对其本地状态的所有类型样品进行成像和分析。使用JEOL EDS检测器配置时，直接在SEM软件接口中直接进行快速分析。

IntouchScope™系列SEMS旨在使操作直观，并通过触摸屏接口使用多点触摸式手势和/或传统的键盘/鼠标和操作面板来控制。“ NAVI”模式可指导从样本简介到新用户或偶尔用户的自动条件设置的操作。