显微镜和显微技术
新扫描电子显微镜与自动分析情报
2020年2月24日
Jeol引入了一个新的场发射扫描电子显微镜与几个功能独特的公司FE SEM产品线:NeoEngine,采用分析智能优化电子束设置和调优;嵌入式EDS有现场分析实时成像和元素分析;和Zeromag导航功能,天衣无缝的光学成像与SEM的高性能光学纳米尺度的调查。
“Jeol F100 FE-SEM提供了一个真正革命性的方法来解决用户的高分辨率显微镜和显微分析的需要。在一个单一的平台Jeol结合最好的电子光学完全嵌入EDS NeoEngine微量分析和强大的人工智能算法的实现最终的易用性和简化工作流程,”娜塔莎Erdman博士说,对产品经理。
NeoEngine纠正电子轨迹和实时自动对齐梁,加上自动纠正集中,亮度/对比度,散光。SEM实现个位数埃分辨率较低的kV,理想的纳米结构的超高分辨率成像,试样表面的细节,以及生物标本,磁性样品元素分析导电和梁敏感的样品。
与生活完全嵌入EDS分析允许用户简单地选择区域,直接映射,线,或另一种类型的分析观察屏幕上开始自动实时显示在指定位置的元素。
大样品室JSM-F100特性分析应用程序的多个端口:EDS,改进算法,EBSD,茎,疯牛病,CL。一个可选的软x射线发射光谱仪提供高效、并行集合的低能x射线,同时提供前所未有的化学状态分析。
的Jeol JSM-F100特性一个镜头探测器和能量过滤器,一个孔径角控制镜头(ACL)在任何千伏或调查当前高超的决议,光束减速(BD)模式减少电荷和增强的表面细节,和一个变量压力选择绝缘标本。
场发射扫描电镜的力量从未如此容易使用。通过引入Jeol下一代流线型FE SEM产品线,运营商控制简化和扫描电镜的功能完全自动化的最佳性能。成像和分析数据是迅速获得通过的数据管理系统和报告。
