你的荧光光谱正确吗?他们现在和杜埃塔在一起!

杜埃塔二合一光谱仪正在革新荧光光谱学。它可以用作荧光计，作为紫外-可见-近红外光谱仪来测量吸光度，或作为通过同时采集荧光和吸光度来测量真实分子指纹的仪器。

荧光光谱由多通道CCD探测器在单次拍摄中获得，无需耗时的逐波长扫描。因此，全范围光谱可以在短短50毫秒内生成，比典型的荧光系统快100倍以上。当收集激发发射矩阵(EEMs)时，这个速度是一个明显的优势，即在一个激发波长范围内的多个发射光谱。CCD探测器的额外优势是波长范围比通常的台式仪器更宽，可达1100纳米。

这种二合一系统不仅可以用一个系统进行两次测量(即荧光和吸收)，而且它的双重性通过自动校正内部过滤效应(IFE)确保了数据的可靠和正确。如果没有这一点，荧光数据很容易出错。

内滤效应(IFEs)可以显著地影响荧光发射光谱分布，使其总体形状发生扭曲，最大峰的光谱位置发生偏移，发射强度降低。因此，当用标准荧光分光计记录时，检测到的荧光与样品的真实荧光发射并不一致，即使荧光团浓度很小。这些荧光光谱畸变在显示、照明和生物成像应用中是至关重要的，在这些应用中需要可靠性和发射特性的精确知识。

磷化铟(InP)量子点(qd)的研究说明了IFE校正的重要性。量子点吸收范围广，光致发光发射范围窄，可根据制造量子点的材料和量子点的大小进行调节。量子点的应用不断扩大，如在体内成像、发光器件、光探测或太阳能转换

制备了两个相同QD的悬浮液，一个在586nm处吸光度为0.015 OD，另一个在586nm处吸光度为1.22 OD。

经过和没有IFE校正的发射光谱如图所示。高浓度光谱受到浓度依赖性的可预测的显著畸变的影响，峰强度远低于浓度，最大峰也有15 nm的波长偏移。

所有的荧光光谱仪都能观测到这种扰动。然而，Duetta的双重荧光和吸光度能够测量真正的分子指纹，实时校正IFE，这一切都在眨眼之间。

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