布鲁克介绍了两种新的电子显微镜分析配件

这一新产品的推出进一步扩大了公司用于电子显微镜中材料表征的高性能工具组合:

XSense™是一种新型平行光束波长色散x射线光谱仪(WDS)，用于扫描电子显微镜(SEM)上的元素分析。专为较低的能量范围设计，XSense光谱仪提供低至4 eV的能量分辨率，能够实现紧密间隔的x射线线的出色分离和高灵敏度的微量元素检测。

XSense™是一种新的微点X射线源，与布鲁克的能量色散X射线光谱仪(EDS)探测器结合使用，可以在SEM系统上实现光子诱导微X射线荧光(micro- xrf)光谱测定。与sem上常用的电子激发x射线光谱法相比，微xrf光谱法的检出限降低了20 - 50倍，增加了检测和分析样品中痕量高z元素的能力．

XSense WDS分析仪和XTrace微x射线源都通过ESPRIT 2.0进行操作，ESPRIT 2.0是Bruker公司全新独特的4合一分析软件套件，可在单个用户界面下无缝集成EDS、WDS、EBSD和micro - xrf。

随着这些新产品的推出，布鲁克现在是只有供应商提供五种技术， EDS, WDS, EBSD, Micro-XRF和Micro-CT，作为电子显微镜的高性能附加分析仪。