单分子力光谱学研究

JPK仪器很高兴宣布他们的纳米技术表征系统家族的最新成员:ForceRobot®300 -单分子力光谱的新标准。

从力谱等单分子技术中获得有意义结果的关键是结果的统计管理。这就是新的ForceRobot®300技术提供解决方案的地方。自动化设置和持续调整提高了数据收集的效率，而光学技术的集成允许有针对性地测量感兴趣的分子所在的位置。这些因素与最高的数据质量和稳定性相结合，将单分子力光谱学领域的结果推向了一个新的水平。

该系统的关键是采用智能软件进行实验设计、数据采集和评估。成千上万的力曲线可以在几个小时内生成和评估。为了产生高质量的曲线，需要一种具有最低噪声下限和最严格的机械设计的特殊仪器。集成电容式位置传感器确保了仪器的最高精度和稳定性，充分利用对称系统设计使漂移最小化。

该系统可以在独立模式下操作，以最大限度地访问和灵活性的样品。或者，它可以安装在倒置光学显微镜的顶部，以实现同时力光谱和荧光显微镜。两种版本均可选择定位台。虽然基本的电动工作台将提供优于1微米的定位，但精密测绘工作台使用闭环控制，噪声水平优于0.3nm，定位约为1nm。

与JPK的所有先进仪器一样，ForceRobot®300在流体和温度控制方面有许多进一步的选择，以实现最可重复的结果。