免费网络研讨会空间解决µ-XRF——你被邀请!

分析非均匀材料的重要性增加,不同成分的分布决定了材料的宏观性质。这些包括机械、电气、光学和磁性。保证它们的属性材料的元素组成分析。

微x射线荧光分析(µ-XRF)是适合这个应用程序。x射线光学的可用性可以激发辐射的浓度在点到25µm直径和高强度。激发辐射的高强度影响只有一个小样本,不破坏它。与x射线激发允许高灵敏度痕迹,所有元素钠和铀能被探测到。小样本地区的分析使分布在一个或两个维度,分析线扫描和地图,分别。分布分析高空间分辨率需要测量的大量点强度高。使用的工具,这将导致高激发强度的必要性和计数率处理能力和高速样本定位阶段。此外,快速获取和(线下)评价为有效的数据管理是很重要的。

这个研讨会将介绍力量M4龙卷风高性能µ-XRF光谱仪,结合最新的技术来满足上述要求。它将首先µ-XRF的底层物理原理的解释,包括毛细管光学、不同参数的影响在空间分辨率和量化,µ-XRF比较与其他位置敏感的分析方法,并讨论数据处理。

第二部分将处理来自不同地区的应用实例。我们将讨论地质样品的检验、失效分析和验证的塑料标准样品的均匀性。

这个免费的研讨会将大约一个小时,提供两个现场会议2011年6月22日最佳观看方便在不同的时区。请按照链接寄存器:
会话我:上午10 c,下午1:30印度时间,中国时间下午4时许,日本/韩国时间下午5点
会议2:美国东部时间上午11 4 pm BST,下午5点c