先进的质谱技术在Pittcon 2013

Almsco国际已经宣布,它将展示其最新的产品跟踪等级Pittcon 2013有机化学分析。

展出将Almsco高性能TOF质谱计,BenchTOF-dx™,它提供了分析师的能力捕捉reference-quality完整光谱信息在传统SIM检测极限。

结合选择性、稳定与完整的光谱灵敏度和速度,这种独特的仪器提供高清质谱和出色的性能对于每一个GC的应用程序。崎岖的和健壮的在日常操作中,BenchTOF-dx也超过同等高级研究的挑战。它提供了识别和测量两个目标化合物和未知的高度复杂的矩阵和最低的水平。

套件的产品也将展出的新版本TargetView™,复合识别一个软件包后GC / MS分析。

能够检测和识别目标和未知化合物在复杂的GC / MS色谱图,跟踪级别工作或常规筛查,软件被设计为所有GC / MS分析人士不管他们的领域的工作。

TargetView提供快速筛选色谱对化合物库,并提供分析师能够快速、轻松地创建定制的光谱库。此外,现在一个新的批处理选项允许将多个文件筛选针对单个图书馆,分析师节省大量的时间。