斯派克XEPOS他光谱仪仪器设定了新的标准量化的重元素

斯派克XEPOS——优化激励和检测保证出色的灵敏度和精度分析金属和重金属在范围广泛的材料。
他的斯派克XEPOS,一种新的模式在斯派克XEPOS系列x射线荧光分析仪器,优化中型和重型元素的分析。在这个区域,达到检测限制因子的5 - 10倍比常规荧光仪器。的斯派克XEPOS他——“他”代表了“重元素”——开发环境分析主要用于实验室,地质学和废物处理区域。常用的光谱仪仪器设置快速筛查分析和量化的许多元素;他们通常只在筛选确定重元素的浓度质量。特别是重元素镉或锑是许多应用程序的极大兴趣。这就是为什么斯派克XEPOS增加了他的斯派克XEPOS范围的产品——现代光谱仪的仪器,提供了所有的优点,但是,与创新设计,能够可靠地量化甚至在ppm范围重元素。斯派克的突出XEPOS他灵活的激励源:仪器使用一个非常稳定的端窗管功率只有50瓦特。用八个目标改变极化和次要目标使用户能够实现良好的灵敏度和准确性的ED-XRF仪器在中型和重型元素的分析。

选择两个探测器之间的大小

的斯派克XEPOS他有两个探测器模型确保无缝集成到实验室操作:标准仪器利用最新类型的硅漂移探测器与10毫米²表面。使用内部准直,它达到一个非常好的信号噪声比和交付,以其高分辨率和高计数率,非常准确的测量在最短的时间。特别要求的环境,XEPOS他可以配备一个可选,三倍30 mm²探测器。与更大的表面积,它提供了更高的敏感性,给实验室的能力来决定:测量大量更快或实现降低检测极限。适合许多应用程序作为重金属,专家的斯派克XEPOS他是适合许多应用领域都没有,直到现在,ED-XRF工具访问。